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  • 低溫箱實驗設備
    低溫箱實驗設備

    低溫箱實驗設(she)備(bei)主要是針對于電工、電子產品(pin),以及(ji)其原(yuan)器件,及(ji)其它材料在高(gao)溫、低溫、濕熱的(de)環境下貯存、運(yun)輸、使用時的(de)適應(ying)性試(shi)驗。

    更新時間:2023-07-30型號:訪問量:1475
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  • 高低溫試驗盒
    高低溫試驗盒

    簡述:高低溫(wen)試(shi)驗(yan)盒(he)適用(yong)(yong)于儀器儀表材料、電工、電子產(chan)(chan)品、家用(yong)(yong)電器、汽摩配件(jian)、化工涂(tu)料、航(hang)空航(hang)天(tian)產(chan)(chan)品及其(qi)他相關產(chan)(chan)品零部件(jian)在高低溫(wen)濕(shi)熱的環境(jing)下貯存、運(yun)輸、使用(yong)(yong)時(shi)的適應性試(shi)驗(yan)。

    更新時間:2023-07-30型號:訪問量:1573
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  • 高低溫交替檢測儀器設備
    高低溫交替檢測儀器設備

    高(gao)低(di)溫(wen)交替(ti)檢測儀器(qi)設備特(te)點 它是用(yong)于試驗材(cai)料在(zai)各種環境下的性能及試驗各種材(cai)料耐(nai)高(gao)溫(wen)、耐(nai)低(di)溫(wen)、耐(nai)熱(re)、耐(nai)寒、耐(nai)溫(wen)、耐(nai)濕的性能。

    更新時間:2023-07-30型號:訪問量:1538
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  • 彈簧高低溫箱-70度
    彈簧高低溫箱-70度

    彈簧高(gao)低(di)溫箱-70度(du)技術參數: 溫度(du)可選擇范圍: A:0℃~150℃ B:-20℃~150℃ C:-40℃~150℃ D:-70℃~150℃(每(mei)個尺寸都可以配這(zhe)些溫度(du)范圍中(zhong)(zhong)的其中(zhong)(zhong)一段) 均勻度(du)/波(bo)動度(du): ±2℃/±0.5℃

    更新時間:2023-07-30型號:訪問量:1574
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  • 高低溫恒溫恒濕檢測設備
    高低溫恒溫恒濕檢測設備

    高(gao)(gao)低溫恒(heng)溫恒(heng)濕檢(jian)測設備(bei)用于高(gao)(gao)、低溫的可(ke)靠性試驗。對電(dian)子電(dian)工、汽(qi)車(che)摩托、航空航天、橡膠、塑(su)膠、金屬、船舶兵器、高(gao)(gao)等院校、科研(yan)單位等相關產品的零部(bu)件及材(cai)料(liao)在高(gao)(gao)、低溫變化的情況(kuang)下(xia),檢(jian)驗其各項(xiang)性能指標。

    更新時間:2023-07-29型號:訪問量:1622
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  • 漆面與膠帶高低溫反應箱
    漆面與膠帶高低溫反應箱

    簡(jian)述:漆面與(yu)膠帶高(gao)低溫(wen)反應箱適用(yong)于(yu)儀器(qi)(qi)儀表材料、電(dian)工、電(dian)子產品(pin)、家(jia)用(yong)電(dian)器(qi)(qi)、汽(qi)摩配件(jian)、化工涂料、航空航天產品(pin)及其(qi)他相關(guan)產品(pin)零部件(jian)在高(gao)低溫(wen)濕熱的(de)環境下(xia)貯(zhu)存、運輸、使用(yong)時的(de)適應性試(shi)驗。

    更新時間:2023-07-29型號:訪問量:1538
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  • 高低溫濕熱實驗箱
    高低溫濕熱實驗箱

    高(gao)低溫濕(shi)熱實驗箱說明:試(shi)驗各種材(cai)料耐(nai)熱、耐(nai)寒(han)、耐(nai)乾(qian)、耐(nai)濕(shi)性能。適合(he)電子、紙品、電器、食(shi)品車(che)輛、金(jin)屬、化學、建材(cai)等工廠品管之用。

    更新時間:2023-07-29型號:訪問量:1540
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  • 低溫測試箱工廠
    低溫測試箱工廠

    低(di)(di)溫(wen)測試(shi)箱(xiang)工廠滿足與執行標準如下:GB/T11158-2006高(gao)溫(wen)試(shi)驗(yan)(yan)(yan)箱(xiang)技術條(tiao)件(jian);GB/T10592-2008高(gao)低(di)(di)溫(wen)試(shi)驗(yan)(yan)(yan)箱(xiang)技術條(tiao)件(jian);GB/T10586-2006濕熱試(shi)驗(yan)(yan)(yan)箱(xiang)技術條(tiao)件(jian);GB/T2423.1-2008電工電子產(chan)品(pin)環境(jing)試(shi)驗(yan)(yan)(yan) 第(di)2部分:試(shi)驗(yan)(yan)(yan)方法(fa) 試(shi)驗(yan)(yan)(yan)A:低(di)(di)溫(wen)

    更新時間:2023-07-29型號:訪問量:1526
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