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  • AP-CJ微電腦溫沖試驗箱
    AP-CJ微電腦溫沖試驗箱

    微電(dian)腦溫(wen)(wen)沖試驗箱適(shi)用(yong)于電(dian)子(zi)電(dian)器零(ling)(ling)組件、通訊組件、自動化(hua)零(ling)(ling)部件、汽車配件、化(hua)學(xue)材(cai)料(liao)、金屬、塑(su)膠等行業、航天(tian)、國(guo)防工(gong)業、BGA、兵工(gong)業、PCB基(ji)扳、電(dian)子(zi)芯片IC、半導(dao)體陶磁(ci)及高分(fen)子(zi)材(cai)料(liao)之(zhi)物(wu)對高、低溫(wen)(wen)的反復抵拉力及產品處于熱脹冷縮的物(wu)理環境產出(chu)的化(hua)學(xue)變化(hua)或物(wu)理傷害,可確認各種產品的品質,從精密(mi)的IC到重機械(xie)的組件,無一不(bu)需要(yao)它,目前此設(she)備是工(gong)業產業共認的理想測(ce)試工(gong)具。

    更新時間:2023-07-29型號:AP-CJ訪問量:1819
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  • AP-CJ模擬環境溫度沖擊測試設備
    AP-CJ模擬環境溫度沖擊測試設備

    模(mo)擬環境溫度沖(chong)擊測(ce)試(shi)(shi)設備可在預約開(kai)機(ji)時間運轉中自(zi)動提前預冷(leng)、預熱(re)、待機(ji)功(gong)能。結構設計(ji)為蓄熱(re)槽(cao)、測(ce)試(shi)(shi)槽(cao)、蓄冷(leng)槽(cao)三(san)部分(fen),被測(ce)試(shi)(shi)物品靜止置放于測(ce)試(shi)(shi)室(shi)內,可選擇2區(qu)或3區(qu)之測(ce)試(shi)(shi)功(gong)能。可獨立設定(ding)高(gao)溫、低溫及冷(leng)熱(re)沖(chong)擊三(san)種(zhong)不同條件(jian)之功(gong)能,執行冷(leng)熱(re)沖(chong)擊條件(jian)時,具有(you)高(gao)低溫試(shi)(shi)驗(yan)機(ji)的功(gong)能。

    更新時間:2023-07-28型號:AP-CJ訪問量:1649
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  • AP-CJ冷熱沖擊箱試驗設備
    AP-CJ冷熱沖擊箱試驗設備

    冷熱沖(chong)擊(ji)箱是一種(zhong)專門設計用(yong)來模擬產品在(zai)不同溫度變化下的(de)可靠性和耐久性的(de)設備。它能夠(gou)通過(guo)快速改變環境溫度,使產品在(zai)短(duan)時間內經歷從(cong)極(ji)低溫度到(dao)高溫度或相(xiang)反的(de)過(guo)程。

    更新時間:2023-09-08型號:AP-CJ訪問量:1717
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  • AP-CJ溫沖試驗設備標準
    AP-CJ溫沖試驗設備標準

    溫沖試(shi)驗(yan)(yan)設(she)備標準試(shi)驗(yan)(yan)目(mu)的(de)(de)是為了仿真不同電子構件,在(zai)實際使用(yong)環(huan)(huan)(huan)境(jing)(jing)中遭遇的(de)(de)溫度(du)條(tiao)件,改(gai)變環(huan)(huan)(huan)境(jing)(jing)溫差范圍及急促升降溫度(du)改(gai)變,可(ke)以提供更為嚴格(ge)測(ce)(ce)試(shi)環(huan)(huan)(huan)境(jing)(jing),縮(suo)短(duan)測(ce)(ce)試(shi)時間,降低測(ce)(ce)試(shi)費用(yong),但是必須要(yao)注意(yi)可(ke)能對材料測(ce)(ce)試(shi)造成額外的(de)(de)影響,產生非使用(yong)狀態的(de)(de)破壞試(shi)驗(yan)(yan)。

    更新時間:2023-07-27型號:AP-CJ訪問量:1849
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  • AP-CJ元器件熱沖擊
    AP-CJ元器件熱沖擊

    元器(qi)件熱沖擊用于測(ce)(ce)試(shi)電(dian)子(zi)(zi)產(chan)(chan)品,電(dian)子(zi)(zi),電(dian)器(qi),電(dian)子(zi)(zi)產(chan)(chan)品,電(dian)子(zi)(zi)元器(qi)件,數(shu)碼(ma)產(chan)(chan)品,手(shou)機(ji),電(dian)腦(nao),太陽能組件等(deng)產(chan)(chan)品及零部件在(zai)瞬(shun)間(jian)下(xia)經*溫及極低溫的(de)(de)(de)連續環境下(xia)忍受的(de)(de)(de)程度,得(de)以在(zai)Z短(duan)時(shi)間(jian)內檢測(ce)(ce)試(shi)樣(yang)因熱脹冷縮所引起的(de)(de)(de)化學(xue)變化或(huo)物理(li)傷害。

    更新時間:2023-07-27型號:AP-CJ訪問量:1635
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