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進口高低溫沖擊試驗箱

簡(jian)要描述:進口(kou)高低(di)溫沖擊試(shi)(shi)(shi)驗箱特別適(shi)用于(yu)半導體電(dian)子器(qi)(qi)件做溫度破壞測試(shi)(shi)(shi),主(zhu)要測試(shi)(shi)(shi)半導體電(dian)子器(qi)(qi)件材料(liao)結構在(zai)瞬間下(xia)經*溫及(ji)極低(di)溫的(de)連續沖擊環境下(xia)所能忍(ren)受的(de)程度,得以(yi)在(zai)Z短時(shi)間內檢測試(shi)(shi)(shi)樣因熱脹冷縮所引起(qi)的(de)化學變化或物(wu)理傷害。

  • 產(chan)品型號AP-CJ
  • 廠(chang)商性質(zhi)生產廠家
  • 更新時間2023-07-25
  • 訪  問  量4237

詳細介紹

品牌愛佩科技 /A-PKJ
  進口高低溫沖擊試驗箱特點
 
  三箱設備區分為:低溫區、測高溫區、試區三部分,測試產品置于測試區,沖擊時高溫區或低溫區的溫度沖入測試區進行沖擊, 測試產品為靜態式。
 
  進口采用觸控式圖控操作界面,操作筒易。
 
  沖擊方式應用風路切換方式將溫度導入測試區,做冷熱沖擊測試。
 
  系統可作自動循環衙擎或手動選擇性沖擊并可設定二區或三區沖擊及冷沖熱沖啟始。
 
  高溫沖擊或低溫沖擊時,zui大時間可達999H,zui大循環周期可達9999次。
 
  冷卻采復疊式二元冷凍系統,降溫效果快速,冷卻方式為水冷式。
 
  可以試驗沖擊常溫執行滿足標準及試驗方法: GJB150.5 溫度沖擊試驗;GJB360.7溫度沖擊試驗;GB/2423.22 溫度沖擊試驗。
 
  進口高低溫沖擊試驗箱特別適用于半導體電子器件做溫度破壞測試,主要測試半導體電子器件材料結構在瞬間下經*溫及極低溫的連續沖擊環境下所能忍受的程度,得以在zui短時間內檢測試樣因熱脹冷縮所引起的化學變化或物理傷害。本試驗箱根據試驗需求及測試標準分為三箱式和兩箱式,區別在于試驗方式和內部結構不同。三箱式分為蓄冷室,蓄熱室和試驗室,產品在測試時是放置在試驗室。兩箱式分為高溫室和低溫室,是通過電機帶動提籃運動來實現高低溫的切換,產品放在提籃里,是隨提籃一起移動的。
 
  技術規格
 
  1. 控制器:*LCD液晶顯示觸摸屏控制器;
 
  2.工作槽溫度范圍:(A:-45),(B:-55),(D:-65)~150℃;
 
  3.高度槽溫度:60℃ - 200℃;
 
  4.高低溫沖擊試驗箱低溫槽溫度:(A:-65),(B:-70),(D:-80)~-10℃;
 
  5.溫度恢復時間:5分鐘以內;
 
  6.高低溫曝露時間:30分鐘
 
  7.內箱材質:霧面不銹鋼SUS304;
 
  8.外箱材質:霧面線條處理不銹鋼SUS304;
 
  9.壓縮機:法國*全密式壓縮機
 
  10.電源:AC380V±10%50HZ 三相四線+保護地線。

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