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小(xiao)型線性快(kuai)速(su)溫(wen)(wen)變試(shi)驗箱(xiang)是一臺(tai)可(ke)以快(kuai)速(su)做高溫(wen)(wen)、低溫(wen)(wen)、高低溫(wen)(wen)循環(huan)交變試(shi)驗的(de)(de)箱(xiang)子，它(ta)Z快(kuai)的(de)(de)速(su)度可(ke)以每分種升降溫(wen)(wen)20℃，當然也可(ke)以根(gen)據顧(gu)客的(de)(de)要(yao)求選(xuan)擇非(fei)標(biao)設計(ji)定制出符合國標(biao)參數的(de)(de)箱(xiang)子。

快速(su)(su)(su)溫(wen)度(du)循環試驗箱是一臺可(ke)以快速(su)(su)(su)做高溫(wen)、低溫(wen)、高低溫(wen)循環交變(bian)試驗的(de)箱子，它的(de)速(su)(su)(su)度(du)可(ke)以每分種升(sheng)降溫(wen)20℃，當然也可(ke)以根據顧客的(de)要求選擇(ze)非標(biao)設計定制出符合國標(biao)參(can)數的(de)箱子。非標(biao)定制升(sheng)降溫(wen)速(su)(su)(su)度(du)可(ke)選擇(ze)線(xian)性或者非線(xian)性2℃／min、3℃／min、4℃／min、5℃／min、6℃／min、7℃／min、8℃／min、9℃／min、10℃／min、15

移動式快(kuai)速溫(wen)(wen)變(bian)試(shi)(shi)驗(yan)箱屬于(yu)(yu)可程式恒(heng)(heng)溫(wen)(wen)恒(heng)(heng)濕(shi)測試(shi)(shi)機(ji)的(de)(de)(de)一種，是用(yong)于(yu)(yu)試(shi)(shi)驗(yan)各種材料(liao)耐(nai)(nai)熱(re)、耐(nai)(nai)寒、耐(nai)(nai)干、耐(nai)(nai)濕(shi)性能的(de)(de)(de)環境試(shi)(shi)驗(yan)設備(bei)。主要用(yong)于(yu)(yu)電子、電器、通訊、儀(yi)表、車輛、塑膠(jiao)制品、金屬、食品、化學、建材、醫療、航天(tian)等制品的(de)(de)(de)質量(liang)檢測與研(yan)發。快(kuai)速溫(wen)(wen)變(bian)型(xing)恒(heng)(heng)溫(wen)(wen)恒(heng)(heng)濕(shi)試(shi)(shi)驗(yan)箱與其(qi)它可程式恒(heng)(heng)溫(wen)(wen)恒(heng)(heng)濕(shi)試(shi)(shi)驗(yan)箱的(de)(de)(de)不同在于(yu)(yu)其(qi)溫(wen)(wen)度(du)的(de)(de)(de)變(bian)化速率與變(bian)化曲(qu)線比(bi)較(jiao)特殊等。

線性(xing)(xing)快速(su)(su)溫(wen)變試驗箱(xiang)適(shi)用于(yu)國防工(gong)業(ye),航(hang)空工(gong)業(ye)、自動化(hua)零組件(jian)、汽車(che)部件(jian)、電子電器儀表零組件(jian)、電工(gong)產(chan)品、塑 膠(jiao)、化(hua)工(gong)業(ye)、食品業(ye)、制(zhi)藥工(gong)業(ye)及相關產(chan)品等(deng)設備在周(zhou)圍大氣溫(wen)度急劇變化(hua)條(tiao)件(jian)下的適(shi)應(ying)性(xing)(xing)試驗（沖擊），適(shi)應(ying)于(yu)儀器、儀表、電工(gong)、電子產(chan)品整機及零部件(jian)等(deng)作(zuo)溫(wen)度快速(su)(su)變化(hua)或漸變條(tiao)件(jian)下的適(shi)應(ying)性(xing)(xing)試驗及應(ying)力篩選試驗以便對(dui)試品在擬(ni)定條(tiao)件(jian)下的性(xing)(xing)能、行為作(zuo)出(chu)分析及評價(jia)（快速(su)(su)變化(hua)）。

快速(su)溫變試驗箱用(yong)于電子電器零組件(jian)(jian)、自(zi)動化零部件(jian)(jian)、通訊組件(jian)(jian)、汽車配件(jian)(jian)、金屬(shu)、化學材料、塑膠等行業(ye)，國防工(gong)業(ye)、航(hang)天、兵工(gong)業(ye)、BGA、PCB基扳(ban)、電子芯片IC、半導體陶磁及(ji)高分子材料之物(wu)理(li)牲(sheng)變化，測(ce)(ce)試其(qi)材料對高、低溫的(de)(de)反復抵拉(la)力及(ji)產品(pin)于熱脹冷縮產出的(de)(de)化學變化或物(wu)理(li)傷害，可確認產品(pin)的(de)(de)品(pin)質，從(cong)精(jing)密(mi)的(de)(de)IC到重機械的(de)(de)組件(jian)(jian)，無(wu)一不需(xu)要(yao)它的(de)(de)理(li)想測(ce)(ce)試工(gong)具。

快速溫(wen)(wen)度變化試(shi)驗箱(xiang)在設計強(qiang)度極(ji)限下，運用溫(wen)(wen)度加速技巧（在上(shang)、下限極(ji)值溫(wen)(wen)度內進行循環(huan)時(shi)(shi)，產品產生交替膨脹和收縮(suo)）改變外在環(huan)境應(ying)(ying)力(li)，使(shi)(shi)產品中產生熱應(ying)(ying)力(li)和應(ying)(ying)變，透過加速應(ying)(ying)力(li)來使(shi)(shi)潛存于產品的(de)瑕(xia)疵(ci)浮現[潛在零件材料瑕(xia)疵(ci)、制程瑕(xia)疵(ci)、工(gong)藝瑕(xia)疵(ci)]，以(yi)避免(mian)該(gai)產品于使(shi)(shi)用過程中，受到(dao)環(huan)境應(ying)(ying)力(li)的(de)考驗時(shi)(shi)而導致(zhi)失效，造成不必要的(de)損失，對于提高產品出(chu)貨良(liang)率與降低返修次數有顯

快速升降(jiang)溫(wen)試(shi)驗機是指按(an)客戶要(yao)求定制平均每分鐘升降(jiang)溫(wen)多少度來(lai)進行(xing)電(dian)工、電(dian)子(zi)(zi)產(chan)品、元器件、零部件及(ji)其(qi)材料進行(xing)高溫(wen)、低溫(wen)或高低溫(wen)漸變(bian)的試(shi)驗，還可以對電(dian)子(zi)(zi)元器件及(ji)產(chan)品進行(xing)應力篩選(xuan)（ESS）試(shi)驗。

高(gao)低(di)溫快速(su)溫度變(bian)(bian)化試(shi)驗(yan)箱(xiang)內環境和被測(ce)產品產生(sheng)快速(su)溫度變(bian)(bian)化，從而大(da)大(da)減少(shao)了試(shi)驗(yan)時間，提高(gao)了試(shi)驗(yan)的(de)工作(zuo)效率(lv)。快速(su)溫度變(bian)(bian)化也(ye)使被測(ce)產品產生(sheng)了更大(da)的(de)應力，因而也(ye)提高(gao)了應力篩選(xuan)效率(lv)。