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15立方步入式低(di)溫老化試(shi)驗房適用于航空航天產(chan)品、信息電(dian)子儀器儀表(biao)、材料、電(dian)工、電(dian)子產(chan)品、各(ge)種電(dian)子元氣件在高低(di)溫或濕熱環境(jing)下、檢(jian)驗其各(ge)性(xing)能項(xiang)指(zhi)標。

大型高溫老(lao)(lao)化房、高溫老(lao)(lao)化房、燒機(ji)試(shi)驗室、步入式高溫老(lao)(lao)化房根據不同的要(yao)求(qiu)配(pei)置主(zhu)體(ti)系(xi)(xi)統(tong)(tong)(tong)(tong)、主(zhu)電(dian)系(xi)(xi)統(tong)(tong)(tong)(tong)、控制系(xi)(xi)統(tong)(tong)(tong)(tong)、加熱系(xi)(xi)統(tong)(tong)(tong)(tong)、溫度(du)控制系(xi)(xi)統(tong)(tong)(tong)(tong)、風力恒溫系(xi)(xi)統(tong)(tong)(tong)(tong)、時間控制系(xi)(xi)統(tong)(tong)(tong)(tong)、測試(shi)負載(zai)等，通過此測試(shi)程序可(ke)檢杳(yao)出不良(liang)品(pin)或不良(liang)件(jian)，是客(ke)戶(hu)迅速找出問題(ti)、解決問題(ti)提(ti)(ti)供有效手(shou)段，充(chong)分提(ti)(ti)高客(ke)戶(hu)生產效率和(he)產品(pin)品(pin)質,也是針對于電(dian)機(ji)、電(dian)子產品(pin)、PCB、PCB電(dian)路(lu)板、開關(guan)電(dian)源、手(shou)機(ji)充(chong)電(dian)器(qi) 、電(dian)池、LCD、主(zhu)板機(ji)、掃描(miao)器(qi)、監視器(qi)、LED，

組合(he)式(shi)高(gao)溫實驗箱用于同(tong)時需(xu)大量的或大型的電子、汽車、橡膠、塑(su)膠、航太(tai)科技及通信器材或大型等產品進(jin)行溫濕度環境測試。

步入式高低溫(wen)試驗(yan)箱配備先進的溫(wen)度控制系(xi)(xi)統，能夠(gou)精確(que)控制箱體(ti)內的溫(wen)度，并(bing)保持在所需的溫(wen)度范圍內。這些系(xi)(xi)統通(tong)常采(cai)用(yong)PID算法來實現溫(wen)度的準(zhun)確(que)控制。用(yong)于評(ping)估產(chan)品的性(xing)能、可(ke)靠性(xing)和耐久(jiu)性(xing)，在不同(tong)溫(wen)度條件下模擬實際使用(yong)環境。

8立方(fang)步(bu)入(ru)式環(huan)境試驗(yan)箱常用(yong)選裝件(jian)包括分體式制(zhi)(zhi)冷機(ji)組、坡(po)板(ban)、空冷制(zhi)(zhi)冷系(xi)(xi)統、干空氣吹掃系(xi)(xi)統以及有特殊位置(zhi)和(he)(he)尺寸要求的(de)觀(guan)察(cha)窗(chuang)、箱門、引線(xian)孔。低(di)濕(shi)系(xi)(xi)統選項：可以使露點(dian)溫度擴展到(dao)5℃以下。嚴格(ge)的(de)出(chu)廠前測試步(bu)入(ru)式試驗(yan)箱在出(chu)廠前都經過嚴格(ge)的(de)測試和(he)(he)可靠性試驗(yan)。

步入式溫(wen)濕度(du)環(huan)(huan)境(jing)檢(jian)測(ce)室適(shi)用于大型零件(jian)、半成品(pin)(pin)、成品(pin)(pin)及藥品(pin)(pin)等進行加速濕熱(re)試(shi)驗(yan)、交變濕熱(re)試(shi)驗(yan)、恒定(ding)濕熱(re)試(shi)驗(yan)，也可以做高低溫(wen)例(li)行試(shi)驗(yan)、低溫(wen)儲存(cun)，以便對產(chan)品(pin)(pin)在試(shi)驗(yan)中擬(ni)定(ding)的環(huan)(huan)境(jing)條件(jian)下(xia)性能、行為作出分析與評估。